Helmut-Fischer FISCHERSCOPE XRF XUV (vaicāt par pieejamību)

FISCHERSCOPE XRF XUV

(vaicāt par pieejamību)

 

XUV® klāsta ierīču vakuuma mērīšanas nodalījums ļauj veikt pārbaudes vieglajiem materiāliem, sākot no nātrija, ar rentgenstaru fluorescences analīzes (RFA) palīdzību. Parasti šo metodi nevar izmantot, jo telpas gaiss absorbē starojumu. Šī iemesla dēļ instruments ir ideāli piemērots ļoti prasīgai pārklājumu biezumu mērīšanai un materiālu analīzes uzdevumiem.

• Īpaši piemēroti izpētei un attīstībai, pateicoties zemajiem noteikšanas ierobežojumiem, atkārtojamai precizitātei un universāli uzlabojamām mērīšanas iespējām
• Vakuuma nodalījums un augsta snieguma silikona novirzes detektors precīzai mērīšanai pat viegliem elementiem
• Automatizēta sērijveida testēšana ar programmējamām X, Y un Z asīm
• Var pielāgot dažādu materiālu un mērīšanas apstākļu prasībām, izmantojot maināmās apertūras un filtrus